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Raipur Breaking News: GATE परीक्षा में हाई-टेक नकल का भंडाफोड़, इलेक्ट्रॉनिक डिवाइस से नकल करते 6 आरोपी गिरफ्तार, सभी हरियाणा के निवासी

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Raipur Breaking News: GATE परीक्षा में हाई-टेक नकल का भंडाफोड़, इलेक्ट्रॉनिक डिवाइस से नकल करते 6 आरोपी गिरफ्तार, सभी हरियाणा के निवासी

रायपुर। राजधानी के DD नगर थाना क्षेत्र में हुई GATE परीक्षा के दौरान बड़ा फर्जीवाड़ा सामने आया है। परीक्षा केंद्र में इलेक्ट्रॉनिक डिवाइस के माध्यम से नकल किए जाने की सूचना पर पुलिस और परीक्षा प्रबंधन की टीम ने संयुक्त कार्रवाई करते हुए 6 आरोपियों को रंगे हाथों गिरफ्तार किया। शुरुआती जांच में सभी आरोपी हरियाणा के निवासी बताए जा रहे हैं।

जानकारी के अनुसार, परीक्षा के दौरान केंद्र पर कुछ अभ्यर्थियों की गतिविधियां संदिग्ध पाई गईं। सतर्कता बढ़ाते हुए परीक्षा प्रबंधन ने तत्काल पुलिस को सूचना दी। मौके पर पहुंची टीम ने तलाशी अभियान चलाया, जिसमें आरोपियों के पास से हाई-टेक इलेक्ट्रॉनिक उपकरण बरामद किए गए। इन डिवाइसों के जरिए बाहर बैठे सहयोगियों से संपर्क कर प्रश्नों के उत्तर प्राप्त किए जाने की आशंका जताई जा रही है।

पुलिस अधिकारियों ने बताया कि आरोपियों को हिरासत में लेकर पूछताछ की जा रही है। यह भी जांच की जा रही है कि नकल का यह तरीका किस नेटवर्क के जरिए संचालित हो रहा था और क्या अन्य परीक्षा केंद्रों पर भी इसी तरह की गतिविधियां हुई हैं। बरामद उपकरणों को फॉरेंसिक जांच के लिए भेजा जाएगा, ताकि तकनीकी साक्ष्य मजबूत किए जा सकें।

प्रशासन ने स्पष्ट किया है कि परीक्षा की निष्पक्षता से किसी भी तरह का समझौता बर्दाश्त नहीं किया जाएगा। दोषियों के खिलाफ आईटी एक्ट व संबंधित परीक्षा कानूनों के तहत सख्त कार्रवाई की जाएगी। वहीं, परीक्षा प्रबंधन ने केंद्रों पर निगरानी और सुरक्षा व्यवस्था को और कड़ा करने के निर्देश दिए हैं।

इस कार्रवाई से साफ है कि संगठित तरीके से की जा रही हाई-टेक नकल पर प्रशासन की कड़ी नजर है और भविष्य में ऐसे प्रयासों पर तत्काल और कठोर कार्रवाई जारी रहेगी।